クライオ電子顕微鏡単粒子解析への深層学習AI技術の応用の現状と展望 (特集 電子顕微鏡画像と機械学習の協働)
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CiNii Research
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書誌情報
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- 資料種別
- 記事
- 著者・編者
- 守屋 俊夫
- シリーズタイトル
- 著者標目
- 並列タイトル等
- Current Status and Prospects of Deep-learning-based AI Applications to Cryogenic Electron Microscopy Single Particle Analysis
- タイトル(掲載誌)
- 顕微鏡 = Microscopy / 「顕微鏡」編集委員会 編
- 巻号年月日等(掲載誌)
- 55(3):2020
- 掲載巻
- 55
- 掲載号
- 3