クライオ電子顕微鏡単粒子解析への深層学習AI技術の応用の現状と展望(特集 電子顕微鏡画像と機械学習の協働)

• 資料種別: 記事
• タイトル: クライオ電子顕微鏡単粒子解析への深層学習AI技術の応用の現状と展望
• 著者・編者: 守屋 俊夫
• シリーズタイトル: 特集 電子顕微鏡画像と機械学習の協働
• 著者標目: 守屋 俊夫
• 並列タイトル等: Current Status and Prospects of Deep-learning-based AI Applications to Cryogenic Electron Microscopy Single Particle Analysis
• タイトル（掲載誌）: 顕微鏡 = Microscopy / 「顕微鏡」編集委員会 編
• 巻号年月日等（掲載誌）: 55(3):2020
• 掲載巻: 55
• 掲載号: 3
• 掲載ページ: 114-119
• 掲載年月日（W3CDTF）: 2020
• ISSN（掲載誌）: 1349-0958
• ISSN-L（掲載誌）: 1349-0958
• 出版事項（掲載誌）: 東京 : 日本顕微鏡学会
• 出版地（国名コード）: JP
• 本文の言語コード: jpn
• 件名標目: クライオ電子顕微鏡; 単粒子解析; 画像処理; 深層学習; 人工知能 (AI)
• NDLC: ZN33
• 対象利用者: 一般
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: Z16-896
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館雑誌記事索引; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 031240292; http://id.ndl.go.jp/bib/031240292
• 整理区分コード: 632