赤外線カメラを使用したパワー半導体の歪みと温度の同時モニタリング

• 資料種別: 記事
• タイトル: 赤外線カメラを使用したパワー半導体の歪みと温度の同時モニタリング
• 著者・編者: 増田 貴樹; 渡邉 晃彦; 大村 一郎
• シリーズタイトル: 電子デバイス 半導体電力交換合同研究会 パワーデバイス・パワーエレクトロニクスとその実装技術
• 著者標目: 増田 貴樹; 渡邉 晃彦; 大村 一郎
• 並列タイトル等: Simultaneous Monitoring of Strain and Temperature for Power Semiconductor using Single IR Camera
• タイトル（掲載誌）: 電気学会研究会資料. EDD = The papers of technical meeting on electron devices, IEE Japan / 電子デバイス研究会 [編]
• 巻号年月日等（掲載誌）: 2020(50-64):2020.12.21
• 掲載巻: 2020
• 掲載号: 50-64
• 掲載ページ: 81-86
• 掲載年月日（W3CDTF）: 2020-12-21
• 出版事項（掲載誌）: 東京 : 電気学会
• 出版地（国名コード）: JP
• 本文の言語コード: jpn
• 件名標目: パワー半導体; デジタル画像相関法; 赤外線カメラ; 歪み分布イメージング; 温度分布イメージング; Power semiconductor; Digital Image Correlation; Infrared camera; Strain distribution imaging; Temperature distribution imaging
• NDLC: ZN33
• 対象利用者: 一般
• レポート番号（雑誌記事）: EDD-20-63
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: Z43-225
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館雑誌記事索引; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 031283075; http://id.ndl.go.jp/bib/031283075
• 整理区分コード: 632