蛍光X線分析法による...

蛍光X線分析法による微少量土器試料の高精度産地同定 : 浅田賞

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蛍光X線分析法による微少量土器試料の高精度産地同定 : 浅田賞

国立国会図書館請求記号
Z43-488
国立国会図書館書誌ID
031393638
資料種別
記事
著者
市川 慎太郎
出版者
東京 : アグネ技術センター
出版年
2021-03
資料形態
掲載誌名
X線分析の進歩 / 日本分析化学会X線分析研究懇談会 編 (52):2021.3
掲載ページ
p.1-14
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書誌情報

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資料種別
記事
著者・編者
市川 慎太郎
著者標目
並列タイトル等
Accurate Provenance Estimation of Small Amount of Ancient Pottery Sample by X-ray Fluorescence Spectrometry
タイトル(掲載誌)
X線分析の進歩 / 日本分析化学会X線分析研究懇談会 編
巻号年月日等(掲載誌)
(52):2021.3
掲載号
52
掲載ページ
1-14
掲載年月日(W3CDTF)
2021-03