バナジウム酸化物薄膜デバイスの電圧印加中のオペランドXAFS測定
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CiNii Research
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書誌情報
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- 資料種別
- 記事
- 著者・編者
- 和達 大樹Yujun ZHANG瀬戸山 寛之堀田 育志根元 亮一
- 並列タイトル等
- Operando XAFS Measurements of V-Oxide Thin-Film Devices Under Electric Voltages
- タイトル（掲載誌）
- X線分析の進歩 / 日本分析化学会X線分析研究懇談会 編
- 巻号年月日等（掲載誌）
- (52):2021.3
- 掲載号
- 52
- 掲載ページ
- 161-166
- 掲載年月日（W3CDTF）
- 2021-03