水素化アモルファスシリコン/結晶シリコンヘテロ接合太陽電池の陽電子消滅法に基づく界面近傍微細構造評価
デジタルデータあり（学術機関リポジトリデータベース）
すぐに読む
CiNii Research
全国の図書館の所蔵
国立国会図書館以外の全国の図書館の所蔵状況を表示します。
所蔵のある図書館から取寄せることが可能かなど、資料の利用方法は、ご自身が利用されるお近くの図書館へご相談ください
書誌情報
この資料の詳細や典拠（同じ主題の資料を指すキーワード、著者名）等を確認できます。
- 資料種別
- 記事
- 著者・編者
- 松木 伸行
- 著者標目
- 並列タイトル等
- Characterization of the near-interface microstructure of a-Si:H/c-Si heterojunction solar cells based on positron annihilation spectroscopy
- タイトル（掲載誌）
- 神奈川大学工学研究 = Technology reports, Kanagawa University / 神奈川大学工学研究所 編
- 巻号年月日等（掲載誌）
- (4):2021.3
- 掲載号
- 4
- 掲載ページ
- 55-57
- 掲載年月日（W3CDTF）
- 2021-03