一定DC反射率フォトリフレクタンス法を使用したショットキー様界面の電界の非接触測定 (令和2年度(2020年度) 福井大学遠赤外領域開発研究センター 研究成果報告書 ; テラヘルツ波分光・計測)

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一定DC反射率フォトリフレクタンス法を使用したショットキー様界面の電界の非接触測定

(令和2年度(2020年度) 福井大学遠赤外領域開発研究センター 研究成果報告書 ; テラヘルツ波分光・計測)

国立国会図書館請求記号
Z74-D273
国立国会図書館書誌ID
031592727
資料種別
記事
著者
颯田 皓弥ほか
出版者
[福井] : 福井大学遠赤外領域開発研究センター
出版年
2020
資料形態
掲載誌名
遠赤外領域開発研究 : 福井大学遠赤外領域開発研究センター研究成果報告書 / 福井大学遠赤外領域開発研究センター広報委員会内「遠赤外領域開発研究」編集委員会 編 22:2020年度
掲載ページ
p.75-79
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書誌情報

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資料種別
記事
著者・編者
颯田 皓弥
井上 涼雅
鈴木 健
小林 英一
牧野 哲征
並列タイトル等
Non-contact measurement of electric field at Schottky-like interface using constant-DC-reflectance photoreflectance method
タイトル(掲載誌)
遠赤外領域開発研究 : 福井大学遠赤外領域開発研究センター研究成果報告書 / 福井大学遠赤外領域開発研究センター広報委員会内「遠赤外領域開発研究」編集委員会 編
巻号年月日等(掲載誌)
22:2020年度
掲載巻
22
掲載ページ
75-79