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高SiO₂試料の蛍光X線分析用ガラスビード作製方法 : ポリエチレンフィルム法 : 鉱物の分析及び実験・解析のコツと勘どころ

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高SiO₂試料の蛍光X線分析用ガラスビード作製方法 : ポリエチレンフィルム法 : 鉱物の分析及び実験・解析のコツと勘どころ

国立国会図書館請求記号
Z15-117
国立国会図書館書誌ID
031656452
資料種別
記事
著者
朝倉 秀夫ほか
出版者
仙台 : 日本鉱物科学会
出版年
2021
資料形態
掲載誌名
岩石鉱物科学 = Japanese magazine of mineralogical and petrological sciences 50(3):2021
掲載ページ
p.87-95
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書誌情報

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デジタル

資料種別
記事
著者・編者
朝倉 秀夫
村田 守
並列タイトル等
Glass bead preparation methods of high silica materials for X-ray fluorescence spectrometric analysis : polyethylene film method
タイトル(掲載誌)
岩石鉱物科学 = Japanese magazine of mineralogical and petrological sciences
巻号年月日等(掲載誌)
50(3):2021
掲載巻
50
掲載号
3
掲載ページ
87-95