有機薄膜トランジスタ用ゲート絶縁層の機械的負荷下でのリーク電流評価とリークパスの推定

• 資料種別: 記事
• タイトル: 有機薄膜トランジスタ用ゲート絶縁層の機械的負荷下でのリーク電流評価とリークパスの推定
• 著者・編者: 日髙 功二; 小金丸 正明; 関根 智仁; 宍戸 信之; 神谷 庄司; 三成 剛生; 池田 徹; 時任 静士
• 著者標目: 日髙 功二; 小金丸 正明; 関根 智仁; 宍戸 信之; 神谷 庄司; 三成 剛生; 池田 徹; 時任 静士
• 並列タイトル等: Evaluation of Leakage Current and Leakage Path of Gate-Insulating Layer Used in Organic Thin-Film Transistors under Mechanical Loading
• タイトル（掲載誌）: エレクトロニクス実装学会誌 = Journal of the Japan Institute of Electronics Packaging
• 巻号年月日等（掲載誌）: 24(6)=166:2021.9
• 掲載巻: 24
• 掲載号: 6
• 掲載通号: 166
• 掲載ページ: 586-594
• 掲載年月日（W3CDTF）: 2021-09
• ISSN（掲載誌）: 1343-9677
• ISSN-L（掲載誌）: 1343-9677
• 出版事項（掲載誌）: 東京 : エレクトロニクス実装学会
• 出版地（国名コード）: JP
• 本文の言語コード: jpn
• 件名標目: OTFT; Mechanical Loading; Insulating Capability; Gate Leakage Current; Leakage Path
• NDLC: ZN33
• 対象利用者: 一般
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: Z74-B258
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館雑誌記事索引; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 031703718; http://id.ndl.go.jp/bib/031703718
• 整理区分コード: 632