高速ミクロプローブに...

高速ミクロプローブによるナノ薄膜材料中電子状態評価手法の開発

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高速ミクロプローブによるナノ薄膜材料中電子状態評価手法の開発

国立国会図書館請求記号
Z74-K829
国立国会図書館書誌ID
031728962
資料種別
記事
著者
大塚 朋廣
出版者
京都 : サムコ科学技術振興財団
出版年
2021-09
資料形態
掲載誌名
研究報告集 / [サムコ科学技術振興財団] [編] 3:2021.9
掲載ページ
p.6-12
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書誌情報

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資料種別
記事
著者・編者
大塚 朋廣
著者標目
並列タイトル等
Research on a local measurement method of electronic states in nano and thin-film materials utilizing fast microscopic probes
タイトル(掲載誌)
研究報告集 / [サムコ科学技術振興財団] [編]
巻号年月日等(掲載誌)
3:2021.9
掲載巻
3
掲載ページ
6-12
掲載年月日(W3CDTF)
2021-09