超音波と光を利用した表層欠陥を可視化する非破壊検査装置 超音波光探傷装置MAIVIS MIV-500の開発

• 資料種別: 記事
• タイトル: 超音波と光を利用した表層欠陥を可視化する非破壊検査装置 超音波光探傷装置MAIVIS MIV-500の開発
• 著者・編者: 堀川 浩司; 岡本 弘文; 田中 隆志; 杉本 賢; 三品 尚登; 早川 昌志; 畠堀 貴秀; 吉田 康紀
• シリーズタイトル: 特集 産業機器
• 著者標目: 堀川 浩司; 岡本 弘文; 田中 隆志; 杉本 賢; 三品 尚登; 早川 昌志; 畠堀 貴秀; 吉田 康紀
• 並列タイトル等: Development of the MAIVIS MIV-500 Ultrasonic Optical Flaw Detector : A New Non-destructive Inspection Device that Uses Ultrasound and Light to Visualize Surface Defects
• タイトル（掲載誌）: 島津評論 / 島津評論編集部 [編]
• 巻号年月日等（掲載誌）: 78(1・2)=235:2021
• 掲載巻: 78
• 掲載号: 1・2
• 掲載通号: 235
• 掲載ページ: 101-109
• 掲載年月日（W3CDTF）: 2021
• ISSN（掲載誌）: 0371-005X
• ISSN-L（掲載誌）: 0371-005X
• 出版事項（掲載誌）: 京都 : 島津評論編集部 ; 1940-
• 出版地（国名コード）: JP
• 本文の言語コード: jpn
• 件名標目: Non-destructive inspection; Speckle shearing interferometer; Stroboscope; Laser; Acoustic waves; Visualization; Crack; Bonded surface
• NDLC: ZN11
• 対象利用者: 一般
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: Z16-472
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館雑誌記事索引; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 031758646; http://id.ndl.go.jp/bib/031758646
• 整理区分コード: 632