雑誌 電子資料日本結晶成長学会誌
ポイントシード技術を...

ポイントシード技術を用いたNaフラックス法による高品質・大口径GaNウエハの作製 (特集 ワイドバンドギャップ材料の結晶成長の最前線)

記事を表すアイコン

ポイントシード技術を用いたNaフラックス法による高品質・大口径GaNウエハの作製

(特集 ワイドバンドギャップ材料の結晶成長の最前線)

国立国会図書館請求記号
YH247-1397
国立国会図書館書誌ID
031776655
資料種別
記事
著者
今西 正幸ほか
出版者
東京 : 日本結晶成長学会
出版年
2021
資料形態
記録メディア
掲載誌名
日本結晶成長学会誌 Journal of the Japanese Association for Crystal Growth 48(3):2021
掲載ページ
p.1-9
すべて見る

全国の図書館の所蔵

国立国会図書館以外の全国の図書館の所蔵状況を表示します。

所蔵のある図書館から取寄せることが可能かなど、資料の利用方法は、ご自身が利用されるお近くの図書館へご相談ください

その他

  • CiNii Research

    検索サービス
    連携先のサイトで、CiNii Researchが連携している機関・データベースの所蔵状況を確認できます。

書誌情報

この資料の詳細や典拠(同じ主題の資料を指すキーワード、著者名)等を確認できます。

記録メディア

資料種別
記事
著者・編者
今西 正幸
村上 航介
宇佐美 茂佳
丸山 美帆子
吉村 政志
森 勇介
並列タイトル等
Fabrication of High-Quality and Large-Diameter GaN Wafer by the Na-Flux Method with a Point Seed Technique
タイトル(掲載誌)
日本結晶成長学会誌 Journal of the Japanese Association for Crystal Growth
巻号年月日等(掲載誌)
48(3):2021
掲載巻
48
掲載号
3