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書誌情報
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- 資料種別
- 記事
- 著者・編者
- 永村 直佳
- 著者標目
- 並列タイトル等
- Surface and interface operando spectral imaging analysis of device structures using synchrotron X-rays
- タイトル（掲載誌）
- 電気学会研究会資料. EFM / 電気学会電子材料研究会 [編]
- 巻号年月日等（掲載誌）
- 2021(1-15):2021.11.18
- 掲載巻
- 2021
- 掲載号
- 1-15