新たな冷却加熱方式を用いた熱負荷試験中の電子基板の3次元熱変形およびサーモグラフィカメラ計測

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新たな冷却加熱方式を用いた熱負荷試験中の電子基板の3次元熱変形およびサーモグラフィカメラ計測

国立国会図書館請求記号
Z16-1617
国立国会図書館書誌ID
031962977
資料種別
記事
著者
菊池 郁織ほか
出版者
東京 : エレクトロニクス実装学会
出版年
2021-09
資料形態
掲載誌名
マイクロエレクトロニクスシンポジウム論文集 31:2021.9.20-22
掲載ページ
p.87-89
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書誌情報

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デジタル

資料種別
記事
著者・編者
菊池 郁織
青木 壮太
小澤 政孝
田中 浩和
並列タイトル等
3D digital image correlation measurement and thermography camera measurement of electronic boards during thermal load test using new cooling and heating method
タイトル(掲載誌)
マイクロエレクトロニクスシンポジウム論文集
巻号年月日等(掲載誌)
31:2021.9.20-22
掲載巻
31
掲載ページ
87-89
掲載年月日(W3CDTF)
2021-09