繰り返し型の効率的なテストを実現するテスト活動データ分析技術(特集 データセントリック時代のソフトウェア技術)

• 資料種別: 記事
• タイトル: 繰り返し型の効率的なテストを実現するテスト活動データ分析技術
• 著者・編者: 丹野 治門; 切貫 弘之; 川口 敬宏; 但馬 将貴; 生沼 守英; 村本 達也
• シリーズタイトル: 特集 データセントリック時代のソフトウェア技術
• 著者標目: 丹野 治門; 切貫 弘之; 川口 敬宏; 但馬 将貴; 生沼 守英; 村本 達也
• タイトル（掲載誌）: NTT技術ジャーナル / 日本電信電話株式会社 編
• 巻号年月日等（掲載誌）: 34(2)=395:2022.2
• 掲載巻: 34
• 掲載号: 2
• 掲載通号: 395
• 掲載ページ: 18-21
• 掲載年月日（W3CDTF）: 2022-02
• ISSN（掲載誌）: 0915-2318
• ISSN-L（掲載誌）: 0915-2318
• 出版事項（掲載誌）: 東京 : 電気通信協会
• 出版地（国名コード）: JP
• 本文の言語コード: jpn
• 件名標目: ソフトウェアテスト; 探索的テスト; テストスクリプト
• NDLC: ZN33
• 対象利用者: 一般
• コレクション（個別）: 国立国会図書館デジタルコレクション > 電子書籍・電子雑誌 > その他; https://dl.ndl.go.jp/collections/B00035
• オンライン閲覧公開範囲: インターネット公開
• 遠隔複写可否（NDL）: 不可
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: Z16-1991
• 関連情報（URI）: https://dl.ndl.go.jp/info:ndljp/pid/12917536
• 関連情報（国立国会図書館永続的識別子）: info:ndljp/pid/12917536; https://dl.ndl.go.jp/info:ndljp/pid/12917536
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館雑誌記事索引; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 031985638; http://id.ndl.go.jp/bib/031985638
• 整理区分コード: 632