走査型ケルビンプローブフォース顕微鏡と電子線後方散乱回折の複合解析を用いたS45C焼鈍鋼の表面電位における結晶方位と微細組織依存性

• 資料種別: 記事
• タイトル: 走査型ケルビンプローブフォース顕微鏡と電子線後方散乱回折の複合解析を用いたS45C焼鈍鋼の表面電位における結晶方位と微細組織依存性
• 著者・編者: 村瀬 義治; 升田 博之; 片山 英樹
• 著者標目: 村瀬 義治; 升田 博之; 片山 英樹
• 並列タイトル等: Crystallographic Orientation and Microstructure Dependences of Surface Potential for Annealed S45C Steel Using Combined Scanning Kelvin Force Probe Microscopy and Electron Backscatter Diffraction Analyses
• タイトル（掲載誌）: 日本金属学会誌 = The journal of the Japan Institute of Metals and Materials
• 巻号年月日等（掲載誌）: 86(3・4):2022.3・4
• 掲載巻: 86
• 掲載号: 3・4
• 掲載ページ: 35-42
• 掲載年月日（W3CDTF）: 2022
• ISSN（掲載誌）: 0021-4876
• ISSN-L（掲載誌）: 0021-4876
• 出版事項（掲載誌）: 仙台 : 日本金属学会 ; 1937-
• 出版地（国名コード）: JP
• 本文の言語コード: jpn
• 件名標目: carbon steel; scanning Kelvin force probe microscopy (SKPFM); electron backscatter diffraction (EBSD); ferrite/pearlite; surface potential; crystallographic orientation
• NDLC: ZP41
• 対象利用者: 一般
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: Z17-314
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館雑誌記事索引; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 032126008; http://id.ndl.go.jp/bib/032126008
• 整理区分コード: 632