高速静電シャッターを用いた電子線制御による新しい低損傷観察,分析手法の開発 (特集低ドーズ条件でのデータ収集の取り組み)

高速静電シャッターを用いた電子線制御による新しい低損傷観察,分析手法の開発

(特集低ドーズ条件でのデータ収集の取り組み)

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資料種別: 記事
タイトル: 高速静電シャッターを用いた電子線制御による新しい低損傷観察,分析手法の開発
著者・編者: 橋口裕樹
八木一樹
神保雄
Ruth S. Bloom
Bryan W. Reed
Daniel J. Masiel
Sang Tae Park
大西市郎
シリーズタイトル: 特集低ドーズ条件でのデータ収集の取り組み
著者標目: 橋口裕樹
八木一樹
神保雄
Ruth S. Bloom
Bryan W. Reed
Daniel J. Masiel
Sang Tae Park
大西市郎
並列タイトル等: Development of New Low Damage Observation and Analysis Method by Electron Beam Control Using High-speed Electrostatic Shutter
タイトル（掲載誌）: 顕微鏡 = Microscopy / 「顕微鏡」編集委員会編
巻号年月日等（掲載誌）: 57(2):2022
掲載巻: 57
掲載号: 2
掲載ページ: 54-58
掲載年月日（W3CDTF）: 2022
ISSN（掲載誌）: 1349-0958
ISSN-L（掲載誌）: 1349-0958
出版事項（掲載誌）: 東京 : 日本顕微鏡学会
出版地（国名コード）: JP
本文の言語コード: jpn
件名標目: STEM
低ドーズ観察
間欠照射
静電シャッター
NDLC: ZN33
対象利用者: 一般
所蔵機関: 国立国会図書館
請求記号: Z16-896
連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館雑誌記事索引
https://ndlsearch.ndl.go.jp
書誌ID（NDLBibID）: 032392333
http://id.ndl.go.jp/bib/032392333
整理区分コード: 632