加熱と放射線照射によるシリコーンゴム絶縁ケーブルの漏れ電流減少とその理由 (誘電・絶縁材料/電線・ケーブル合同研究会・電線・ケーブルシステムの技術動向(製品技術,劣化機構解明,診断・評価・判定技術))

加熱と放射線照射によるシリコーンゴム絶縁ケーブルの漏れ電流減少とその理由

(誘電・絶縁材料/電線・ケーブル合同研究会・電線・ケーブルシステムの技術動向(製品技術,劣化機構解明,診断・評価・判定技術))

掲載誌名: 電気学会研究会資料. EWC : The Papers of Technical Meeting on Electric Wire and Power Cable, IEE Japan / 電線・ケーブル研究会 [編] 2023(6-15):2023.3.3

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資料種別: 記事
タイトル: 加熱と放射線照射によるシリコーンゴム絶縁ケーブルの漏れ電流減少とその理由
著者・編者: 大木義路
平井直志
田中康寛
シリーズタイトル: 誘電・絶縁材料/電線・ケーブル合同研究会・電線・ケーブルシステムの技術動向(製品技術,劣化機構解明,診断・評価・判定技術)
著者標目: 大木義路
平井直志
田中康寛
並列タイトル等: Leakage Current Decrease in Silicone-Rubber-Insulated Cables by Heat and Radiation and Its Reasons
タイトル（掲載誌）: 電気学会研究会資料. EWC : The Papers of Technical Meeting on Electric Wire and Power Cable, IEE Japan / 電線・ケーブル研究会 [編]
巻号年月日等（掲載誌）: 2023(6-15):2023.3.3
掲載巻: 2023
掲載号: 6-15
掲載ページ: 13-20
掲載年月日（W3CDTF）: 2023-03-03
出版事項（掲載誌）: 東京 : 電気学会
出版地（国名コード）: JP
本文の言語コード: jpn
NDLC: ZN31
対象利用者: 一般
レポート番号（雑誌記事）: EWC-23-008
所蔵機関: 国立国会図書館
請求記号: Z74-D947
連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館雑誌記事索引
https://ndlsearch.ndl.go.jp
書誌ID（NDLBibID）: 032811987
http://id.ndl.go.jp/bib/032811987
整理区分コード: 632