試料の分析高さ位置の不確定性を除外したW-Si標準物質を用いたXPSスペクトルピークの相対強度比の測定精度

• 資料種別: 記事
• タイトル: 試料の分析高さ位置の不確定性を除外したW-Si標準物質を用いたXPSスペクトルピークの相対強度比の測定精度
• 著者・編者: 黒河 明; 張 ルウルウ
• 著者標目: 黒河 明; 張 ルウルウ
• 並列タイトル等: Measurement Precision of Relative Intensity Ratio of XPS Spectrum Peaks When Using W-Si Reference Material Excluding Ambiguity of Analysis Height Position of Sample Surfaces
• タイトル（掲載誌）: Journal of surface analysis / 表面分析研究会 編
• 巻号年月日等（掲載誌）: 30(1):2023.8
• 掲載巻: 30
• 掲載号: 1
• 掲載ページ: 28-38
• 掲載年月日（W3CDTF）: 2023-08
• ISSN（掲載誌）: 1341-1756
• ISSN-L（掲載誌）: 1341-1756
• 出版事項（掲載誌）: 東京 : 表面分析研究会
• 出版地（国名コード）: JP
• 本文の言語コード: jpn
• NDLC: ZM35
• 対象利用者: 一般
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: Z15-B66
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館雑誌記事索引; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 033008438; http://id.ndl.go.jp/bib/033008438
• 整理区分コード: 632