エクステンディド・ア...

エクステンディド・アブストラクト ArガスクラスターイオンによるLIB負極上のSEI被膜のXPS深さ方向分析

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エクステンディド・アブストラクト ArガスクラスターイオンによるLIB負極上のSEI被膜のXPS深さ方向分析

国立国会図書館請求記号
Z15-B66
国立国会図書館書誌ID
033008444
資料種別
記事
著者
渡邉 俊祐
出版者
東京 : 表面分析研究会
出版年
2023-08
資料形態
掲載誌名
Journal of surface analysis / 表面分析研究会 編 30(1):2023.8
掲載ページ
p.44-51
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書誌情報

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資料種別
記事
著者・編者
渡邉 俊祐
著者標目
並列タイトル等
Depth Profiling of the SEI Coating on the LIB Negative Electrode Using Ar Gas Cluster Ion Beam
タイトル(掲載誌)
Journal of surface analysis / 表面分析研究会 編
巻号年月日等(掲載誌)
30(1):2023.8
掲載巻
30
掲載号
1
掲載ページ
44-51