ミュオンを用いた精密...

ミュオンを用いた精密計測 : 分光から干渉計へ (電子回路研究会・次世代周波数精密計測の基礎と応用)

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ミュオンを用いた精密計測 : 分光から干渉計へ

(電子回路研究会・次世代周波数精密計測の基礎と応用)

国立国会図書館請求記号
Z43-2257
国立国会図書館書誌ID
033099385
資料種別
記事
著者
神田 聡太郎
出版者
東京 : 電気学会
出版年
2023-09-11
資料形態
掲載誌名
電気学会研究会資料. ECT = The papers of technical meeting on electronic circuits, IEE Japan / 電子回路研究会 [編] 2023(48-53):2023.9.11
掲載ページ
p.21-26
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書誌情報

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資料種別
記事
著者・編者
神田 聡太郎
著者標目
並列タイトル等
Precision Measurements Using Muons : From Spectroscopy to Interferometry
タイトル(掲載誌)
電気学会研究会資料. ECT = The papers of technical meeting on electronic circuits, IEE Japan / 電子回路研究会 [編]
巻号年月日等(掲載誌)
2023(48-53):2023.9.11
掲載巻
2023
掲載号
48-53