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書誌情報
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- 資料種別
- 記事
- 著者・編者
- 阪口 浩介小西 和也江口 佳佑曽根田 真也
- 並列タイトル等
- Reduction of Junction Temperature with Local Lifetime Control and High Density Arranged Diode for 3rd Gen. 650 V RC-IGBT
- タイトル(掲載誌)
- 電気学会研究会資料. EDD = The papers of technical meeting on electron devices, IEE Japan / 電子デバイス研究会 [編]
- 巻号年月日等(掲載誌)
- 2023(45-67):2023.10.27
- 掲載巻
- 2023
- 掲載号
- 45-67