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書誌情報
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- 資料種別
- 記事
- 著者・編者
- 谷口 正純
- シリーズタイトル
- 著者標目
- 並列タイトル等
- Basic Technology of JTAG Boundary Scan Testing
- タイトル（掲載誌）
- エレクトロニクス実装学会誌 = Journal of the Japan Institute of Electronics Packaging
- 巻号年月日等（掲載誌）
- 27(4)=185:2024.7
- 掲載巻
- 27
- 掲載号
- 4