Defect Detection in Metal-Ceramic Substrate Based on Image Processing and Machine Learning

• 資料種別: 記事
• タイトル: Defect Detection in Metal-Ceramic Substrate Based on Image Processing and Machine Learning
• 著者・編者: Min Zou; Kota Matsunaga; Yuji Ueda; Tsuyoshi Sugawara; Hideyo Osanai; Yoichi Kageyama
• 著者標目: Min Zou; Kota Matsunaga; Yuji Ueda; Tsuyoshi Sugawara; Hideyo Osanai; Yoichi Kageyama
• タイトル（掲載誌）: IEEJ journal of industry applications
• 巻号年月日等（掲載誌）: 13(4):2024
• 掲載巻: 13
• 掲載号: 4
• 掲載ページ: 379-388
• 掲載年月日（W3CDTF）: 2024
• ISSN（掲載誌）: 2187-1094
• ISSN-L（掲載誌）: 2187-1094
• 出版事項（掲載誌）: Tokyo : The Institute of Electrical Engineers of Japan
• 出版地（国名コード）: JP
• 本文の言語コード: eng
• 件名標目: defect detection; feature extraction; CNN; classification; deep learning
• NDLC: ZN31
• 対象利用者: 一般
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: Z78-A743
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館雑誌記事索引; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 033569112; http://id.ndl.go.jp/bib/033569112
• 整理区分コード: 632