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回折X線明滅法を用い...

回折X線明滅法を用いた結晶性高分子表面の分子動態計測 : 2022年度量子ビームサイエンスフェスタ 学生奨励賞受賞原稿

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回折X線明滅法を用いた結晶性高分子表面の分子動態計測 : 2022年度量子ビームサイエンスフェスタ 学生奨励賞受賞原稿

国立国会図書館請求記号
Z15-442
国立国会図書館書誌ID
033575775
資料種別
記事
著者
稲益 礼奈ほか
出版者
つくば : Photon factory news編集委員会
出版年
2024-05
資料形態
掲載誌名
PF news 42(1):2024.5
掲載ページ
p.17-20
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書誌情報

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資料種別
記事
著者・編者
稲益 礼奈
新井 達也
野澤 俊介
三尾 和弘
佐々木 裕次
並列タイトル等
Measurement of Molecular Dynamics on Crystalline Polymer Surfaces Using Diffracted X-ray Blinking Method
タイトル(掲載誌)
PF news
巻号年月日等(掲載誌)
42(1):2024.5
掲載巻
42
掲載号
1
掲載ページ
17-20