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アンダーサンプリングによる軸受診断の革新 : 安価な低周波数の振動計測による軸受の損傷検知 (生産工場/施設運用におけるリスク低減と高度保安(1)状態監視・検知・診断/予測技法の適応)

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アンダーサンプリングによる軸受診断の革新 : 安価な低周波数の振動計測による軸受の損傷検知

(生産工場/施設運用におけるリスク低減と高度保安(1)状態監視・検知・診断/予測技法の適応)

国立国会図書館請求記号
Z14-105
国立国会図書館書誌ID
033737593
資料種別
記事
著者
中山 慎司
出版者
東京 : 工業技術社
出版年
2024-10
資料形態
掲載誌名
計装 67(10)=819:2024.10
掲載ページ
p.16-20
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書誌情報

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資料種別
記事
著者・編者
中山 慎司
著者標目
タイトル(掲載誌)
計装
巻号年月日等(掲載誌)
67(10)=819:2024.10
掲載巻
67
掲載号
10
掲載通号
819