広帯域RVDの複素誤差計測に対する等価回路パラメータ計測ベースの妥当性確認方法(特集 : イノベーションを創出する最新の計測技術2025)

• 資料種別: 記事
• タイトル: 広帯域RVDの複素誤差計測に対する等価回路パラメータ計測ベースの妥当性確認方法
• 著者・編者: 山田 達司; 橘 勝也; 塩田 敏昭
• シリーズタイトル: 特集 : イノベーションを創出する最新の計測技術2025
• 著者標目: 山田 達司; 橘 勝也; 塩田 敏昭
• 並列タイトル等: Complex Error Measurement and its Validation Method by Equivalent Circuit Parameters Measurement for Wideband Resistive Voltage Dividers
• タイトル（掲載誌）: 電気学会論文誌. A, 基礎・材料・共通部門誌 = IEEJ transactions on fundamentals and materials
• 巻号年月日等（掲載誌）: 145(10):2025.10
• 掲載巻: 145
• 掲載号: 10
• 掲載ページ: 301-307
• 掲載年月日（W3CDTF）: 2025-10
• ISSN（掲載誌）: 0385-4205
• ISSN-L（掲載誌）: 0385-4205
• 出版事項（掲載誌）: 東京 : 電気学会
• 出版地（国名コード）: JP
• 本文の言語コード: jpn
• 件名標目: 抵抗分圧器; 誤差計測; インピーダンス; 比誤差; 位相誤差; 等価回路; resistive voltage divider (RVD); error measurement; impedance; raito error; phase error; equivalent circuit
• NDLC: ZN31
• 対象利用者: 一般
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: Z16-793
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館雑誌記事索引; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 034355025; http://id.ndl.go.jp/bib/034355025
• 整理区分コード: 632