ニューラルネットワークを用いたX線吸収スペクトル逆解析によるアモルファスSiOₓ局所構造解析手法の開発

• 資料種別: 記事
• タイトル: ニューラルネットワークを用いたX線吸収スペクトル逆解析によるアモルファスSiOₓ局所構造解析手法の開発
• 著者・編者: 藤方 悠; 杉澤 宏樹
• 著者標目: 藤方 悠; 杉澤 宏樹
• 並列タイトル等: Neural Network-Based XANES Analysis for Predicting the Local Structure and Valence in Amorphous SiOₓ
• タイトル（掲載誌）: ゼオライト = Zeolite
• 巻号年月日等（掲載誌）: 42(4):2025
• 掲載巻: 42
• 掲載号: 4
• 掲載ページ: 132-140
• 掲載年月日（W3CDTF）: 2025
• ISSN（掲載誌）: 0918-7774
• ISSN-L（掲載誌）: 0918-7774
• 出版事項（掲載誌）: 東京 : 日本ゼオライト学会
• 出版地（国名コード）: JP
• 本文の言語コード: jpn
• 件名標目: アモルファス; SiOₓ; XANES; 計測インフォマティクス; ニューラルネットワーク; amorphous; measurement informatics; neural networks
• NDLC: ZP5
• 対象利用者: 一般
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: Z17-1437
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館雑誌記事索引; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 034396746; http://id.ndl.go.jp/bib/034396746
• 整理区分コード: 632