硬X線光電子分光法を...

硬X線光電子分光法を用いた半導体デバイスの分析

記事を表すアイコン

硬X線光電子分光法を用いた半導体デバイスの分析

国立国会図書館請求記号
Z15-561
国立国会図書館書誌ID
10160950
資料種別
記事
著者
吉木 昌彦ほか
出版者
大阪 : 日本放射光学会
出版年
2009-01
資料形態
掲載誌名
放射光 : 日本放射光学会誌 = Journal of the Japanese Society for Synchrotron Radiation Research / 日本放射光学会 編 22(1) 2009.1
掲載ページ
p.20~29
すべて見る

全国の図書館の所蔵

国立国会図書館以外の全国の図書館の所蔵状況を表示します。

所蔵のある図書館から取寄せることが可能かなど、資料の利用方法は、ご自身が利用されるお近くの図書館へご相談ください

その他

  • CiNii Research

    検索サービス
    連携先のサイトで、CiNii Researchが連携している機関・データベースの所蔵状況を確認できます。

書誌情報

この資料の詳細や典拠(同じ主題の資料を指すキーワード、著者名)等を確認できます。

資料種別
記事
著者・編者
吉木 昌彦
鈴木 正道
土屋 義規 他
並列タイトル等
Hard X-ray photoelectron spectroscopy for semiconductor device analysis
タイトル(掲載誌)
放射光 : 日本放射光学会誌 = Journal of the Japanese Society for Synchrotron Radiation Research / 日本放射光学会 編
巻号年月日等(掲載誌)
22(1) 2009.1
掲載巻
22
掲載号
1
掲載ページ
20~29