微摺動摩耗によるコネクタ寿命の研究

• 資料種別: 記事
• タイトル: 微摺動摩耗によるコネクタ寿命の研究
• 著者・編者: 伊藤 大二; 池田 博榮; 齋藤 寧 他
• シリーズタイトル: 信頼性
• 著者標目: 伊藤 大二; 池田 博榮; 齋藤 寧
• 並列タイトル等: Influence of fretting corrosion on lifetime of tin plated connectors
• タイトル（掲載誌）: 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
• 巻号年月日等（掲載誌）: 108(433) 2009.2.20
• 掲載巻: 108
• 掲載号: 433
• 掲載ページ: 19～24
• 掲載年月日（W3CDTF）: 2009-02-20
• ISSN（掲載誌）: 0913-5685
• ISSN-L（掲載誌）: 0913-5685
• 出版事項（掲載誌）: 東京 : 電子情報通信学会
• 出版地（国名コード）: JP
• 本文の言語コード: jpn
• 件名標目: 摺動距離; 微摺動摩耗現象; 接触抵抗; 寿命; Amplitude; Fretting Corrosion; Contact Resistance; lifetime
• NDLC: ZN33
• 対象利用者: 一般
• レポート番号（雑誌記事）: R2008-47
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: Z16-940
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館雑誌記事索引; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 10174644; http://id.ndl.go.jp/bib/10174644
• 整理区分コード: 632