雑誌電子情報通信学会技術研究報告 : 信学技報
巻号108(429)-108(434) 20090200-20090200
記事錫めっき微摺動接点の...

錫めっき微摺動接点の微細構造観察 (信頼性)

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錫めっき微摺動接点の微細構造観察

(信頼性)

国立国会図書館請求記号
Z16-940
国立国会図書館書誌ID
10174650
資料種別
記事
著者
伊藤 哲也ほか
出版者
東京 : 電子情報通信学会
出版年
2009-02-20
資料形態
紙
掲載誌名
電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 108(433) 2009.2.20
掲載ページ
p.25～30
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紙

資料種別
記事
タイトル
錫めっき微摺動接点の微細構造観察
著者・編者
伊藤 哲也
澤田 滋
野村 良行 他
シリーズタイトル
信頼性
著者標目
伊藤 哲也
澤田 滋
野村 良行
並列タイトル等
Microscopy study of fretting corrosion of the tin plated contacts
タイトル（掲載誌）
電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
巻号年月日等（掲載誌）
108(433) 2009.2.20
掲載巻
108
掲載号
433