NEアカデミー 計測実践講座(第3回)高周波電力測定の信頼性を,十分に確保できていますか

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NEアカデミー 計測実践講座(第3回)高周波電力測定の信頼性を,十分に確保できていますか

国立国会図書館請求記号
Z16-751
国立国会図書館書誌ID
10233426
資料種別
記事
著者
豊田 豊ほか
出版者
東京 : 日経BP
出版年
2009-06-01
資料形態
掲載誌名
日経エレクトロニクス = Nikkei electronics : sources of innovation (1005) 2009.6.1
掲載ページ
p.108~115
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書誌情報

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デジタル

資料種別
記事
著者・編者
豊田 豊
青木 俊明
並列タイトル等
NE academy: Practical measurement seminar (part 3) Are your high-frequency power measurements sufficiently reliable?
タイトル(掲載誌)
日経エレクトロニクス = Nikkei electronics : sources of innovation
巻号年月日等(掲載誌)
(1005) 2009.6.1
掲載号
1005
掲載ページ
108~115
掲載年月日(W3CDTF)
2009-06-01