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MOSトランジスタのスケーリングに伴う特性ばらつき (小特集 CMOSデバイスの微細化に伴う特性ばらつきの増大とその対策)

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MOSトランジスタのスケーリングに伴う特性ばらつき(小特集 CMOSデバイスの微細化に伴う特性ばらつきの増大とその対策)

国立国会図書館請求記号
Z16-192
国立国会図書館書誌ID
10328308
資料種別
記事
著者
平本 俊郎ほか
出版者
東京 : 電子情報通信学会
出版年
2009-06
資料形態
デジタル
掲載誌名
電子情報通信学会誌 = The journal of the Institute of Electronics, Information and Communication Engineers 92(6) (通号 1021) 2009.6
掲載ページ
p.416~426
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書誌情報

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デジタル

資料種別
記事
著者・編者
平本 俊郎
竹内 潔
西田 彰男
並列タイトル等
Variability of characteristics in scaled MOSFETs
タイトル(掲載誌)
電子情報通信学会誌 = The journal of the Institute of Electronics, Information and Communication Engineers
巻号年月日等(掲載誌)
92(6) (通号 1021) 2009.6
掲載巻
92
掲載号
6