半導体シリコンセンサ...

半導体シリコンセンサーを用いたpHイメージング顕微鏡による固体表面分析

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半導体シリコンセンサーを用いたpHイメージング顕微鏡による固体表面分析

国立国会図書館請求記号
Z17-9
国立国会図書館書誌ID
10337649
資料種別
記事
著者
野村 聡
出版者
東京 : 日本分析化学会
出版年
2009-07
資料形態
掲載誌名
分析化学 / 日本分析化学会 編 58(7) (通号 666) 2009.7
掲載ページ
p.595~601
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デジタル

資料種別
記事
著者・編者
野村 聡
著者標目
並列タイトル等
Solid surface analysis using pH-imaging microscope based on semiconductor sensor
タイトル(掲載誌)
分析化学 / 日本分析化学会 編
巻号年月日等(掲載誌)
58(7) (通号 666) 2009.7
掲載巻
58
掲載号
7
掲載通号
666