SiO2の環境助長割れ進展挙動の原子レベルシミュレーション (小特集 電子機器の熱・機械信頼性と機械工学)
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CiNii Research
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書誌情報
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- 資料種別
- 記事
- 著者・編者
- 保川 彰夫
- シリーズタイトル
- 著者標目
- 並列タイトル等
- Atomistic simulation of environment-assisted crack propagation behavior of SiO2
- タイトル（掲載誌）
- 日本機械学会論文集. A編
- 巻号年月日等（掲載誌）
- 75(755) 2009.7
- 掲載巻
- 75
- 掲載号
- 755