シリコーンによる電気接点の接触信頼性 (信頼性)

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シリコーンによる電気接点の接触信頼性

(信頼性)

国立国会図書館請求記号
Z16-940
国立国会図書館書誌ID
10477496
資料種別
記事
著者
森井 真喜人ほか
出版者
東京 : 電子情報通信学会
出版年
2009-11-20
資料形態
掲載誌名
電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 109(294) 2009.11.20
掲載ページ
p.1~5
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書誌情報

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資料種別
記事
著者・編者
森井 真喜人
森脇 弘之
シリーズタイトル
並列タイトル等
Study of contact trouble phenomenon with silicone
タイトル(掲載誌)
電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
巻号年月日等(掲載誌)
109(294) 2009.11.20
掲載巻
109
掲載号
294