格子間型酸化物イオン伝導体のミリングによる欠陥構造変化とその低温熱容量への影響

• 資料種別: 記事
• タイトル: 格子間型酸化物イオン伝導体のミリングによる欠陥構造変化とその低温熱容量への影響
• 著者・編者: 高井 茂臣; 江坂 享男; 東條 壮男 他
• 著者標目: 高井 茂臣; 江坂 享男; 東條 壮男
• 並列タイトル等: Variation of defect structure of interstitial-type oxide ion conductors due to milling and its effects on the low-temperature heat capacity
• タイトル（掲載誌）: 熱測定
• 巻号年月日等（掲載誌）: 37(3) 2010.6
• 掲載巻: 37
• 掲載号: 3
• 掲載ページ: 104～111
• 掲載年月日（W3CDTF）: 2010-06
• ISSN（掲載誌）: 0386-2615
• ISSN-L（掲載誌）: 0386-2615
• 出版事項（掲載誌）: 東京 : 日本熱測定学会
• 出版地（国名コード）: JP
• 本文の言語コード: jpn
• 件名標目: Oxide Ion Conductor; Milling; Heat Capacity; Defect Structure
• NDLC: ZM15
• 対象利用者: 一般
• コレクション（個別）: 国立国会図書館デジタルコレクション > 電子書籍・電子雑誌 > 学術機関 > 学協会; https://dl.ndl.go.jp/collections/B00043
• オンライン閲覧公開範囲: インターネット公開
• 遠隔複写可否（NDL）: 不可
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: Z14-694
• 関連情報（URI）: http://dl.ndl.go.jp/info:ndljp/pid/11187853
• 関連情報（国立国会図書館永続的識別子）: info:ndljp/pid/11187853; http://dl.ndl.go.jp/info:ndljp/pid/11187853
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館雑誌記事索引; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 10755127; http://id.ndl.go.jp/bib/10755127
• 整理区分コード: 632

• 要約等: This review describes the defect contribution of La-doped PbWO₄ oxide ion conductors in terms of low-temperature heat capacity by comparing...