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超臨界二酸化炭素処理技術のフォトリソグラフィへの応用と微小レジストパターンの密着強度への影響 (小特集 超臨界流体と表面処理技術)

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超臨界二酸化炭素処理技術のフォトリソグラフィへの応用と微小レジストパターンの密着強度への影響(小特集 超臨界流体と表面処理技術)

国立国会図書館請求記号
Z17-291
国立国会図書館書誌ID
10804323
資料種別
記事
著者
石山 千恵美
出版者
東京 : 表面技術協会
出版年
2010-08
資料形態
掲載誌名
表面技術 = Journal of the Surface Finishing Society of Japan 61(8) 2010.8
掲載ページ
p.571~577
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デジタル

資料種別
記事
著者・編者
石山 千恵美
著者標目
並列タイトル等
Effects of supercritical carbon dioxide on adhesive strength of microsized photoresist patterns in photolithography
タイトル(掲載誌)
表面技術 = Journal of the Surface Finishing Society of Japan
巻号年月日等(掲載誌)
61(8) 2010.8
掲載巻
61
掲載号
8