依頼講演 A 65nm Bistable Cross-coupled Dual Modular Redundancy Flip-Flop capable of protecting soft errors on the C-element

• 資料種別: 記事
• タイトル: 依頼講演 A 65nm Bistable Cross-coupled Dual Modular Redundancy Flip-Flop capable of protecting soft errors on the C-element
• 著者・編者: 古田 潤; 濱中 力; 小林 和淑 他
• シリーズタイトル: シリコン材料・デバイス
• 著者標目: 古田 潤; 濱中 力; 小林 和淑
• 並列タイトル等: 依頼講演 C-elementのソフトエラー耐性を強化した65nm Bistable Cross-coupled Dual Modular Redundancy (BCDMR) FF
• タイトル（掲載誌）: 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
• 巻号年月日等（掲載誌）: 110(182) 2010.8.26・27
• 掲載巻: 110
• 掲載号: 182
• 掲載ページ: 121～124
• 掲載年月日（W3CDTF）: 2010-08
• ISSN（掲載誌）: 0913-5685
• ISSN-L（掲載誌）: 0913-5685
• 出版事項（掲載誌）: 東京 : 電子情報通信学会
• 出版地（国名コード）: JP
• 本文の言語コード: eng
• 件名標目: ソフトエラー; 信頼性; 多重化; フリップフロップ; Soft Error; Reliability; Multiple Modular Redundancy; Flip-Flop
• NDLC: ZN33
• 対象利用者: 一般
• レポート番号（雑誌記事）: SDM2010-146
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: Z16-940
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館雑誌記事索引; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 10817440; http://id.ndl.go.jp/bib/10817440
• 整理区分コード: 632