ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象--加振機構のモデリング(9)

• 資料種別: 記事
• タイトル: ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象--加振機構のモデリング(9)
• 著者・編者: 和田 真一; 越田 圭治; Saindaa Norovlin 他
• シリーズタイトル: 機構デバイス
• 著者標目: 和田 真一; 越田 圭治; Saindaa Norovlin
• 並列タイトル等: Degradation phenomenon of electrical contacts by hammering oscillating mechanism: modeling of the oscillating mechanism (9)
• タイトル（掲載誌）: 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
• 巻号年月日等（掲載誌）: 110(178) 2010.8.26・27
• 掲載巻: 110
• 掲載号: 178
• 掲載ページ: 1～6
• 掲載年月日（W3CDTF）: 2010-08
• ISSN（掲載誌）: 0913-5685
• ISSN-L（掲載誌）: 0913-5685
• 出版事項（掲載誌）: 東京 : 電子情報通信学会
• 出版地（国名コード）: JP
• 本文の言語コード: jpn
• 件名標目: 電気接点; 劣化現象; ハンマリング加振機構; 微小振動; 摩擦力; 慣性力; 数理モデル; electrical contact; degradation phenomenon; hammering oscillating mechanism; micro-oscillation; frictional force; inertial force; mathematical model
• NDLC: ZN33
• 対象利用者: 一般
• レポート番号（雑誌記事）: EMD2010-26
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: Z16-940
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館雑誌記事索引; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 10817698; http://id.ndl.go.jp/bib/10817698
• 整理区分コード: 632