依頼講演 A 65nm Bistable Cross-coupled Dual Modular Redundancy Flip-Flop capable of protecting soft errors on the C-element (集積回路)

依頼講演 A 65nm Bistable Cross-coupled Dual Modular Redundancy Flip-Flop capable of protecting soft errors on the C-element

(集積回路)

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資料種別: 記事
タイトル: 依頼講演 A 65nm Bistable Cross-coupled Dual Modular Redundancy Flip-Flop capable of protecting soft errors on the C-element
著者・編者: 古田潤
濱中力
小林和淑他
シリーズタイトル: 集積回路
著者標目: 古田潤
濱中力
小林和淑
並列タイトル等: 依頼講演 C-elementのソフトエラー耐性を強化した65nm Bistable Cross-coupled Dual Modular Redundancy (BCDMR) FF
タイトル（掲載誌）: 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
巻号年月日等（掲載誌）: 110(183) 2010.8.26・27
掲載巻: 110
掲載号: 183
掲載ページ: 121～124
掲載年月日（W3CDTF）: 2010-08
ISSN（掲載誌）: 0913-5685
ISSN-L（掲載誌）: 0913-5685
出版事項（掲載誌）: 東京 : 電子情報通信学会
出版地（国名コード）: JP
本文の言語コード: eng
件名標目: ソフトエラー
信頼性
多重化
フリップフロップ
Soft Error
Reliability
Multiple Modular Redundancy
Flip-Flop
NDLC: ZN33
対象利用者: 一般
レポート番号（雑誌記事）: ICD2010-61
所蔵機関: 国立国会図書館
請求記号: Z16-940
連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館雑誌記事索引
https://ndlsearch.ndl.go.jp
書誌ID（NDLBibID）: 10817868
http://id.ndl.go.jp/bib/10817868
整理区分コード: 632