FEMによる電流通電機構の長寿命化と信頼性確立のための接触不良問題解決法の研究 ([日本工業大学]学内特別研究および国外研修に関する特集号 ; 教育・研究活動報告--学内特別研究)

FEMによる電流通電機構の長寿命化と信頼性確立のための接触不良問題解決法の研究

([日本工業大学]学内特別研究および国外研修に関する特集号 ; 教育・研究活動報告--学内特別研究)

掲載誌名: 日本工業大学研究報告 = Report of researches / Nippon Institute of Technology 40(2) (通号 129) 2010.9

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資料種別: 記事
タイトル: FEMによる電流通電機構の長寿命化と信頼性確立のための接触不良問題解決法の研究
著者・編者: 上野貴博
シリーズタイトル: [日本工業大学]学内特別研究および国外研修に関する特集号 ; 教育・研究活動報告--学内特別研究
著者標目: 上野貴博
並列タイトル等: Research on loose connection problem of current collecting mechanism by FEM
タイトル（掲載誌）: 日本工業大学研究報告 = Report of researches / Nippon Institute of Technology
巻号年月日等（掲載誌）: 40(2) (通号 129) 2010.9
掲載巻: 40
掲載号: 2
掲載通号: 129
掲載ページ: 448～451
掲載年月日（W3CDTF）: 2010-09
ISSN（掲載誌）: 0389-2514
ISSN-L（掲載誌）: 0389-2514
出版事項（掲載誌）: 宮代町 (埼玉県) : 日本工業大学
出版地（国名コード）: JP
本文の言語コード: jpn
NDLC: ZM2
対象利用者: 一般
所蔵機関: 国立国会図書館
請求記号: Z14-803
連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館雑誌記事索引
https://ndlsearch.ndl.go.jp
書誌ID（NDLBibID）: 10853363
http://id.ndl.go.jp/bib/10853363
整理区分コード: 632