偏光光学系蛍光X線分...

偏光光学系蛍光X線分析装置を用いるコーヒー豆の微量元素分析及び産地判別への適用

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偏光光学系蛍光X線分析装置を用いるコーヒー豆の微量元素分析及び産地判別への適用

国立国会図書館請求記号
Z17-9
国立国会図書館書誌ID
10868722
資料種別
記事
著者
赤峰 生朗ほか
出版者
東京 : 日本分析化学会
出版年
2010-10
資料形態
掲載誌名
分析化学 / 日本分析化学会 編 59(10) (通号 681) 2010.10
掲載ページ
p.863~871
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書誌情報

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デジタル

資料種別
記事
著者・編者
赤峰 生朗
大高 亜生子
保倉 明子 他
並列タイトル等
Determination of trace elements in coffee beans by XRF spectrometer equipped with polarization optics and its application to identification of their production area
タイトル(掲載誌)
分析化学 / 日本分析化学会 編
巻号年月日等(掲載誌)
59(10) (通号 681) 2010.10
掲載巻
59
掲載号
10
掲載通号
681