量産検査コスト削減を目的としたテスト時間短縮法の実践的有効性の検証(電子デバイスの信頼性技術)

掲載誌名: 信頼性 = The journal of Reliability Engineering Association of Japan : 日本信頼性学会誌 32(7) (通号 187) 2010.11

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資料種別: 記事
タイトル: 量産検査コスト削減を目的としたテスト時間短縮法の実践的有効性の検証
著者・編者: 平瀬潤一
シリーズタイトル: 電子デバイスの信頼性技術
著者標目: 平瀬潤一
並列タイトル等: Practical efficiency verification of test time reduction methods aiming at cutting production testing cost
タイトル（掲載誌）: 信頼性 = The journal of Reliability Engineering Association of Japan : 日本信頼性学会誌
巻号年月日等（掲載誌）: 32(7) (通号 187) 2010.11
掲載巻: 32
掲載号: 7
掲載通号: 187
掲載ページ: 468～477
掲載年月日（W3CDTF）: 2010-11
ISSN（掲載誌）: 0919-2697
ISSN-L（掲載誌）: 0919-2697
出版事項（掲載誌）: 東京 : 日本信頼性学会
出版地（国名コード）: JP
本文の言語コード: jpn
NDLC: ZM1
対象利用者: 一般
所蔵機関: 国立国会図書館
請求記号: Z14-2023
連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館雑誌記事索引
https://ndlsearch.ndl.go.jp
書誌ID（NDLBibID）: 10913055
http://id.ndl.go.jp/bib/10913055
整理区分コード: 632