工業ナノ材料のリスク評価とそれを支えるキャラクタリゼーション技術 (特集 安全性確保のための評価技術と計測・標準)

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工業ナノ材料のリスク評価とそれを支えるキャラクタリゼーション技術

(特集 安全性確保のための評価技術と計測・標準)

国立国会図書館請求記号
Z14-106
国立国会図書館書誌ID
10924393
資料種別
記事
著者
小倉 勇ほか
出版者
東京 : 計測自動制御学会 ; 1962-
出版年
2010-10
資料形態
掲載誌名
計測と制御 : journal of the Society of Instrument and Control Engineers 49(10) 2010.10
掲載ページ
p.677~682
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書誌情報

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資料種別
記事
著者・編者
小倉 勇
小林 憲弘
岸本 充生
並列タイトル等
Risk assessment of engineered nanomaterials and supporting characterization techniques
タイトル(掲載誌)
計測と制御 : journal of the Society of Instrument and Control Engineers
巻号年月日等(掲載誌)
49(10) 2010.10
掲載巻
49
掲載号
10