発光ダイオードを用いた接触領域内の電流直接観察

• 資料種別: 記事
• タイトル: 発光ダイオードを用いた接触領域内の電流直接観察
• 著者・編者: 筑地 茂樹; 澤田 滋; 玉井 輝雄 他
• シリーズタイトル: 信頼性
• 著者標目: 筑地 茂樹; 澤田 滋; 玉井 輝雄
• 並列タイトル等: Direct viewing of current in contact area used by light emission diode
• タイトル（掲載誌）: 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
• 巻号年月日等（掲載誌）: 110(415) 2011.2.18
• 掲載巻: 110
• 掲載号: 415
• 掲載ページ: 7～12
• 掲載年月日（W3CDTF）: 2011-02-18
• ISSN（掲載誌）: 0913-5685
• ISSN-L（掲載誌）: 0913-5685
• 出版事項（掲載誌）: 東京 : 電子情報通信学会
• 出版地（国名コード）: JP
• 本文の言語コード: jpn
• 件名標目: 電気接点; 集中抵抗; 電流集中; 発光ダイオード; 電流密度分布; Electrical contact; Constriction resistance; Current constriction; Light emission diode; Current density distribution
• NDLC: ZN33
• 対象利用者: 一般
• レポート番号（雑誌記事）: R2010-43
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: Z16-940
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館雑誌記事索引; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 11001384; http://id.ndl.go.jp/bib/11001384
• 整理区分コード: 632