発光ダイオードを用いた接触領域内の電流直接観察 (信頼性)

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発光ダイオードを用いた接触領域内の電流直接観察

(信頼性)

国立国会図書館請求記号
Z16-940
国立国会図書館書誌ID
11001384
資料種別
記事
著者
筑地 茂樹ほか
出版者
東京 : 電子情報通信学会
出版年
2011-02-18
資料形態
掲載誌名
電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 110(415) 2011.2.18
掲載ページ
p.7~12
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書誌情報

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資料種別
記事
著者・編者
筑地 茂樹
澤田 滋
玉井 輝雄 他
シリーズタイトル
並列タイトル等
Direct viewing of current in contact area used by light emission diode
タイトル(掲載誌)
電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
巻号年月日等(掲載誌)
110(415) 2011.2.18
掲載巻
110
掲載号
415