開離時アーク後の接点...

開離時アーク後の接点表面の接触抵抗分布測定 (機構デバイス)

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開離時アーク後の接点表面の接触抵抗分布測定

(機構デバイス)

国立国会図書館請求記号
Z16-940
国立国会図書館書誌ID
11001526
資料種別
記事
著者
山梨 洋平ほか
出版者
東京 : 電子情報通信学会
出版年
2011-02-18
資料形態
掲載誌名
電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 110(416) 2011.2.18
掲載ページ
p.19~24
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書誌情報

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資料種別
記事
著者・編者
山梨 洋平
宮司 勝吉
関川 純哉 他
シリーズタイトル
並列タイトル等
Measurement of contact resistance distribution on electrical contact surfaces eroded by break arcs
タイトル(掲載誌)
電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
巻号年月日等(掲載誌)
110(416) 2011.2.18
掲載巻
110
掲載号
416