デバイス動作下硬X線光電子分光法による最先端材料の物性解明 (第30回表面科学学術講演会特集号(1))
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CiNii Research
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書誌情報
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- 資料種別
- 記事
- 著者・編者
- 山下 良之長田 貴弘吉川 英樹 他
- シリーズタイトル
- 並列タイトル等
- Bias-application in hard X-ray photoelectronic study for advanced materials
- タイトル（掲載誌）
- 表面科学 = Journal of the Surface Science Society of Japan / 日本表面科学会 編
- 巻号年月日等（掲載誌）
- 32(6) 2011.6
- 掲載巻
- 32
- 掲載号
- 6