走査型キャパシタンス...

走査型キャパシタンス顕微鏡による微小領域の半導体不純物分布測定

記事を表すアイコン

走査型キャパシタンス顕微鏡による微小領域の半導体不純物分布測定

国立国会図書館請求記号
Z15-379
国立国会図書館書誌ID
1117074
資料種別
記事
著者
峯尾 江利子ほか
出版者
東京 : 日本表面科学会
出版年
1999-01
資料形態
デジタル
掲載誌名
表面科学 = Journal of the Surface Science Society of Japan / 日本表面科学会 編 20(1) 1999.01
掲載ページ
p.27~32
すべて見る

全国の図書館の所蔵

国立国会図書館以外の全国の図書館の所蔵状況を表示します。

所蔵のある図書館から取寄せることが可能かなど、資料の利用方法は、ご自身が利用されるお近くの図書館へご相談ください

その他

  • CiNii Research

    検索サービス
    連携先のサイトで、CiNii Researchが連携している機関・データベースの所蔵状況を確認できます。

書誌情報

この資料の詳細や典拠(同じ主題の資料を指すキーワード、著者名)等を確認できます。

デジタル

資料種別
記事
著者・編者
峯尾 江利子
久保 真紀
中沢 正敏 他
タイトル(掲載誌)
表面科学 = Journal of the Surface Science Society of Japan / 日本表面科学会 編
巻号年月日等(掲載誌)
20(1) 1999.01
掲載巻
20
掲載号
1
掲載ページ
27~32
掲載年月日(W3CDTF)
1999-01