金属/GeO2界面における化学結合状態の光電子分光分析 (シリコン材料・デバイス)

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金属/GeO2界面における化学結合状態の光電子分光分析(シリコン材料・デバイス)

国立国会図書館請求記号
Z16-940
国立国会図書館書誌ID
11200224
資料種別
記事
著者
松井 真史ほか
出版者
東京 : 電子情報通信学会
出版年
2011-07-04
資料形態
掲載誌名
電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 111(114) 2011.7.4
掲載ページ
p.63~68
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書誌情報

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デジタル

資料種別
記事
著者・編者
松井 真史
藤岡 知宏
大田 晃生 他
シリーズタイトル
並列タイトル等
Photoemission study of chemical bonding features at metal/GeO2 interfaces
タイトル(掲載誌)
電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
巻号年月日等(掲載誌)
111(114) 2011.7.4
掲載巻
111
掲載号
114