QCスタッフ部門における故障解析技術の研究-2-故障解析技術を応用した電子部品の品質改善活動事例(京都品質管理大会報文集)

国立国会図書館請求記号: Z4-180
国立国会図書館書誌ID: 1683696

資料種別: 記事

著者: 平岡正博

出版者: 東京 : 日本科学技術連盟 ; 1950-2001

出版年: 1975-05

資料形態: デジタル

掲載誌名: 品質管理 26(5臨増) 1975.05

掲載ページ: p.p651～656

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書誌情報

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デジタル

資料種別: 記事
タイトル: QCスタッフ部門における故障解析技術の研究-2-故障解析技術を応用した電子部品の品質改善活動事例
著者・編者: 平岡正博
シリーズタイトル: 京都品質管理大会報文集
著者標目: 平岡正博
タイトル（掲載誌）: 品質管理
巻号年月日等（掲載誌）: 26(5臨増) 1975.05
掲載巻: 26
掲載号: 5臨増
掲載ページ: p651～656
掲載年月日（W3CDTF）: 1975-05
ISSN（掲載誌）: 0018-1951
ISSN-L（掲載誌）: 0018-1951
出版事項（掲載誌）: 東京 : 日本科学技術連盟 ; 1950-2001
出版地（国名コード）: JP
本文の言語コード: jpn
NDLC: ZD25
対象利用者: 一般
記事種別、記事分類: 記事分類: 電気工学--電子工学--電子部品
コレクション（個別）: 国立国会図書館デジタルコレクション > デジタル化資料 > 雑誌
https://dl.ndl.go.jp/collections/A00002
オンライン閲覧公開範囲: 国立国会図書館内限定公開
デジタル化資料送信: 図書館・個人送信対象外
遠隔複写可否（NDL）: 可
所蔵機関: 国立国会図書館
請求記号: Z4-180
掲載誌（国立国会図書館永続的識別子）: info:ndljp/pid/12892740
https://dl.ndl.go.jp/pid/12892740
連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館雑誌記事索引
https://ndlsearch.ndl.go.jp
書誌ID（NDLBibID）: 1683696
http://id.ndl.go.jp/bib/1683696
整理区分コード: 632